Компания Agilent Technologies анонсировала выпуск программное обеспечение для характеризации и анализа полупроводниковых интегральных схем и приборов IC-CAP и WaferPro. Новое программное обеспечение позволяет проводить автоматизированные DC и RF измерения. Утилита WaferPro позволяет пользователям управлять зондовой станцией в полуавтоматическом или автоматическом режиме, а также позволяет автоматизировать измерения в диапазоне температур. WaferPro позволяет напрямую управлять параметрическими измерительными системами 4070 и 4080 компании Agilent, благодаря чему можно значительно повысить скорость измерений. Источник
2010-09-06 18:50:18
|